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GaSb Metal-Oxide-Semiconductor Capacitors with Atomic-Layer-Deposited HfAlO as Gate Dielectric
  • ISSN号:1099-0062
  • 期刊名称:Electrochemical and Solid-State Letters
  • 时间:2012
  • 页码:51-54
  • 相关项目:分子层淀积量子阱有机薄膜晶体管的基础研究
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