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薄膜结构对 Si/ SiO2 I-V 特性的影响
  • 期刊名称:物理实验, 29(3), (2009), 10.
  • 时间:0
  • 相关项目:硅基微结构掺杂复合氧化物气敏传感器薄膜的研究
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