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Interface control and modification of band alignment and electrical properties of HfTiO/GaAs gate st
  • ISSN号:2050-7534
  • 期刊名称:Journal of Materials Chemistry C
  • 时间:2014
  • 页码:5299-5308
  • 相关项目:HfTiON/TaON叠层高k栅介质薄膜的制备及其在锗场效应晶体管中的应用探索
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