欢迎您！东篱公司
退出
-
申报数据库
-
立项数据库
-
成果数据库
-
项目获奖数据库
位置：立项数据库 > 立项详情页
中文摘要：
在恶劣工作环境下，高可靠、强容错的机载电子设备的研究开发是当前迫切需要解决的困难问题。本项目研究集成化数字电子系统芯片级实时自诊断和在线自主修复的基础理论和关键技术，主要研究内容为（1）模仿人类胚胎细胞生长发育与疾病免疫系统的工作原理，提出面向芯片级自诊断与自主修复的数字系统硬件体系结构和电子细胞电路；（2）研究集成数字系统实时分布式故障诊断方法，探索基于细胞死亡与激活思想的数字系统芯片级在线自愈机制；（3）研究复杂自修复数字系统多目标设计准则与进化设计方法；（4）开展数字系统在线自修复实验研究。本项目研究成果对于探索纳米与分子级高可靠的智能型集成电路体系结构与设计方法，开拓高可靠、强生存、长寿命、自主维修的集成电子系统的新理论及设计技术，提高军用武器装备的可靠性、可用性、战场作战生存能力，降低使用维护维修费用，具有重大的理论意义和重要的工程应用价值。
成果综合统计
期刊论文
会议论文
专利
获奖
著作
相关项目
王友仁的项目
