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片上系统测试架构设计与优化 针对噪声引起的测试良产率下降的研究
  • 项目名称：片上系统测试架构设计与优化 针对噪声引起的测试良产率下降的研究
  • 项目类别：国际(地区)合作与交流项目
  • 批准号：60831160526
  • 项目来源：国家自然科学基金
  • 研究期限：1900-01-01-1900-01-01
  • 项目负责人：李晓维
  • 依托单位：中国科学院计算技术研究所
  • 批准年度：2008
成果综合统计
成果类型
数量
  • 期刊论文
  • 会议论文
  • 专利
  • 获奖
  • 著作
  • 6
  • 0
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期刊论文
基于SAT的快速电路时延计算
动态更新参考切片的IP核测试数据压缩方法
考虑工作负载影响的电路老化预测方法
采用部分增强型扫描提高跳变时延故障覆盖率的触发器选择方法
通过器件共享实现的双向无阻塞光互连片上网络
基于可重构MUXs网络的低功耗测试数据压缩方法
李晓维的项目
集成电路安全隐患检测的理论与方法
期刊论文 5
数字VLSI电路测试技术研究
期刊论文 158 会议论文 59 著作 2
基于硅通孔的三维集成电路故障诊断
期刊论文 3
IEEE第四届寄存器传输与高层测试学术研讨会
内置自测试自动综合技术的研究
期刊论文 6 会议论文 1
IEEE第十二届亚洲测试学术会议
微处理器自修复设计基础技术研究
期刊论文 4 会议论文 5 获奖 2
多芯核共享的测试响应数据压缩方法研究
期刊论文 15 会议论文 3
从行为级到版图级的设计验证与测试生成
期刊论文 133 会议论文 48