位置：立项数据库 > 立项详情页
集成电路安全隐患检测的理论与方法
  • 项目名称：集成电路安全隐患检测的理论与方法
  • 项目类别：重点项目
  • 批准号：61532017
  • 项目来源：国家自然科学基金
  • 研究期限：1900-01-01-1900-01-01
  • 项目负责人：李晓维
  • 依托单位：中国科学院计算技术研究所
  • 批准年度：2015
成果综合统计
成果类型
数量
  • 期刊论文
  • 会议论文
  • 专利
  • 获奖
  • 著作
  • 5
  • 0
  • 0
  • 0
  • 0
期刊论文
非确定性仲裁型物理不可克隆函数设计
内建自调整的仲裁器物理不可克隆函数
践行科教融合、贯穿产学研的创新人才培养——中国科学院计算技术研究所的实践
Wide Operational Range Processor Power Delivery Design for Both Super-Threshold Voltage and Near-Threshold Voltage Computing
基于资源配置等效性的数据中心能耗优化
李晓维的项目
多芯核共享的测试响应数据压缩方法研究
期刊论文 15 会议论文 3
从行为级到版图级的设计验证与测试生成
期刊论文 133 会议论文 48
片上系统测试架构设计与优化 针对噪声引起的测试良产率下降的研究
期刊论文 6
内置自测试自动综合技术的研究
期刊论文 6 会议论文 1
IEEE第十二届亚洲测试学术会议
微处理器自修复设计基础技术研究
期刊论文 4 会议论文 5 获奖 2
数字VLSI电路测试技术研究
期刊论文 158 会议论文 59 著作 2
基于硅通孔的三维集成电路故障诊断
期刊论文 3
IEEE第四届寄存器传输与高层测试学术研讨会