中文摘要：

小延迟缺陷（SDD）是数字系统高度集成化的必然产物。SDD是指延迟故障的延迟量很小，不容易被ATE识别。测试要求将故障效应沿着通过每一信号线的长路径传播。当路径延迟及SDD的延迟量和大于时钟周期时，该缺陷就被检测到。小延迟缺陷的诊断仍然是空白，测试集要求能够识别小延迟缺陷的位置。通过获取的信息指导修正现有的设计及生产流程，因而提高成品率。本项目拟提出不同的SDD诊断方法（1）基于路径识别的诊断测试码产生方法，及（2）基于缺陷概率的故障诊断。基于缺陷概率的SDD诊断是通过缺陷概率分析来引导故障点的识别。基于路径识别的故障诊断是通过新的SDD基于诊断的测试码产生来实现的。后者涉及路径识别，诊断测试码产生及故障点确认等。诊断测试集合会控制得足够小。本项目还将提出有效的SDD测试精简策略及测试压缩技术。本项目还将考虑一些动态因素，如温度及电压等对路径延迟的影响，基于此提出一种新的SDD测试方法。

结论摘要：

本项目在小延迟缺陷的测试精简，热驱动的小延迟缺陷测试测试及降低热突发事件的DFT设计技术，三维IC热驱动测试，延迟测试测试压缩及转换延迟故障的测试精简做出了深入细致的工作。小延迟缺陷测试精简含高效的最长可测试路径选择，该算法不需要回溯就能完成最长可测试路径选择。基于选择的路径集合提出了一种高效的测试精简 算法。三维热驱动测试策略提出一种新的测试排序方法可有效地降低峰值温度。小延迟缺陷测试的热突发事件是指由于测试过程中温度的变化引起的过测试。热驱动小延迟测试提出一种新的小延迟测试排序策略及一种新的热驱动路径选择算法可有效地降低热突发事件，但不能从根本上解决该问题。本项目提出一种新的热驱动DFT结构及测试方法可以从根本上解决小延迟缺陷测试的热突发事件问题。转换故障的测试精简是基于测试影响范围来实现的。该方法在一种新的度量的引导下实现测试码产生及测试精简。