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基于TCG图和模拟退火算法的SoC测
  • 期刊名称:电路与系统学报Vol.11 No.5 pp.37(2006.10)
  • 时间:0
  • 相关项目:基于测试压缩和LBIST的系统芯片低成本测试技术研究
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