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基于物理α指数MOSFET模型的SRAM
  • 期刊名称：电子与信息学报 Vol.29 No.1 pp.223(2007.1)
  • 时间：0
  • 相关项目：基于测试压缩和LBIST的系统芯片低成本测试技术研究
作者： 顾明*、杨军
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