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基于电化学沉积的高深宽比无源MEMS惯性开关的研制
  • ISSN号:1671-833X
  • 期刊名称:《航空制造技术》
  • 时间:0
  • 分类:TN305.7[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]大连理工大学精密与特种加工教育部重点实验室,大连116024, [2]大连理工大学辽宁省微纳米及系统重点实验室,大连116024
  • 相关基金:国家自然科学基金项目(51375077,51475245); 大连理工大学创新团队项目(DUT16TD20)
中文摘要:

基于电化学沉积技术在金属基底上制作了一种新型的无源MEMS惯性开关。针对高深宽比、细线宽微电铸用光刻胶模具制作过程中,由于SU-8胶膜严重侧蚀导致的胶膜制作困难、质量低下的问题,进行了紫外光刻试验研究。试验研究了不同曝光剂量和后烘时间对SU-8胶光刻效果的影响,优化了光刻工艺参数。采用降低曝光剂量和延长后烘时间相结合的方法解决了高深宽比、细线宽SU-8胶膜制作困难的问题,制作出高质量的微电铸用光刻胶模具。最后,在上述试验结果基础上制作了一种高深宽比、无源MEMS惯性开关。其外形尺寸为3935μm×3935μm×234μm,其中最细线宽12μm,单层最大深宽比达10∶1,多层最大深宽比达20∶1。

英文摘要:

Based on the electrochemical deposition technique, a new passive MEMS inertial switch was fabricated on a metal substrate. In view of the problems of poor quality caused by the serious lateral erosion of SU-8 in the process of making high-aspect ratio and fine-line micro electroforming molds, SU-8 UV lithography was studied. The effects of different exposure dose and PEB(post exposure bake) time on SU-8 UV lithography were studied experimentally, and the parameters of UV lithography were optimized. By using the method of reducing the exposure dose and prolonging the PEB time, the problem of poor quality of high-aspectratio and fine-line SU-8 electroforming mold was solved successfully. Finally, on the basis of the above experimental results, a passive MEMS inertial switch with high-aspect ratio was developed. The external dimensions are 3935μm×3935μm×234μm, of which the smallest line width is 12μm, the highest aspect ratio of the single layer is 10∶1, and the highest aspect ratio of the multi-layer is 20∶1.

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期刊信息
  • 《航空制造技术》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国航空工业集团公司
  • 主办单位:北京航空制造工程研究所
  • 主编:刘柱
  • 地址:北京市朝阳区八里桥北东军庄1号
  • 邮编:100024
  • 邮箱:lzm@amte.net.cn
  • 电话:010-85700465
  • 国际标准刊号:ISSN:1671-833X
  • 国内统一刊号:ISSN:11-4387/V
  • 邮发代号:82-26
  • 获奖情况:
  • 中文核心期刊,中国科技论文统计用刊,中国期刊方阵“双百”期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2011版)
  • 被引量:10629