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运用共模响应整形技术实现恒跨导全摆幅运放
  • 期刊名称：微电子学与计算机，2006.23（3）：104-108
  • 时间：0
  • 分类：TN432[电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 作者机构：[1]武汉大学电气工程学院,武汉430072
  • 相关基金：国家自然科学基金资助项目（59977016）
  • 相关项目：多端口归一化模拟单元电路导出与实现方法研究
关键词： CMOS, 运算放大器, 恒跨导, 电平位移.共模响应整形, CMOS, Amplifier, Constant-gin, Levelshift, Conunon-mode respose shaping
中文摘要：

本文提出了一种运用“共模响应整形技术”实现的恒跨导全摆幅运放。该运放在全摆幅的动态工作范围内，输入级跨导基本保持不变。CMOS工艺参数的变化对跨导变化率的影响很小。输出级采用AB类结构，实现了全摆幅输出。

英文摘要：

A constant-gm rail-to-rail CMOS Op-Amp with common-mode response shaping technology is presented. In the dynamic operation range this Op-Amp can remain constant-gm and the variation of gm is independent of fabrication,

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