欢迎您!
东篱公司
退出
申报数据库
申报指南
立项数据库
成果数据库
期刊论文
会议论文
著 作
专 利
项目获奖数据库
位置:
成果数据库
>
期刊
> 期刊详情页
Photoelectric properties of p--FeSi2/n-4H-SiC heterojunction near-infrared photodiode
ISSN号:1674-4926
期刊名称:半导体学报
时间:2015.5.1
页码:054009-
相关项目:基于Si/SiC异质结的非紫外光控SiC大功率电力电子器件可行性研究
作者:
Zheng Chunlei|Pu Hongbin|Li Hong|Chen Zhiming|
同期刊论文项目
基于Si/SiC异质结的非紫外光控SiC大功率电力电子器件可行性研究
期刊论文 34
会议论文 15
同项目期刊论文
Investigation of micropipes in 6H-SiC by Raman scattering
Formation and evolution of micropipes in SiC crystals
Stacking faults at the boundary between 15R-and 4H-polytype in SiC
The epitaxial growth of (1 1 1) oriented monocrystalline Si film based on a 4:5 Si-to-SiC atomic lat
The 4:5 Si-to-SiC atomic lattice matching interfaces in the system of Si(111) heteroepitaxially grow
SiC籽晶表面状态对晶体质量的影响
PVT法生长SiC过程生长界面形状对热应力的影响
Interface-structure of the Si/SiC heterojunction grown on 6H-SiC
Non-UV Photoelectric Properties of the Ni/n-Si/N+-SiC Isotype Heterostructure Schottky Barrier Photo
Ni/n-Si/N+-SiC Heterostructure Schottky Barrier Photodiode Used in Non-ultraviolet Region
Preferential growth of Si films on 6H-SiC(0001) C-face
Lattice-matching of Si grown on 6H-SiC(000-1) C-face
Three-dimensional observation of defects in nitrogen-doped 6H-SiC crystals using a laser scanning co
Si( 100) 表面S 钝化效果与稳定性研究
6H-SiC硅面S钝化工艺研究
The epitaxial growth of (111) oriented monocrystalline Si film based on a 4:5 Si-to-SiC atomic latti
Electrical and photoelectric properties of p-Si/n(+)-6H-SiC heterojunction non-ultraviolet photodiod
Effect of growth gas flow rate on the SiC crystal resistivity
Simulation of near-infrared photodiode detectors based on beta-FeSi2/4H-SiC heterojunctions
TEM characterization of Si films grown on 6H-SiC (0001) C-face
First-principles study on Si(?220)/6H–SiC(0001) interface
β-FeSi2 films prepared on 6H-SiC substrates by magnetron sputtering
Relaxation of 6H-SiC (0001) surface and Siadsorption on 6H-SiC (0001): an ab initio study
First-principles calculations on atomic andelectronic properties of Si(111)/6H-SiC(0001) heterojunct
Atomic-scale characterization of Si(110)/6H-SiC(0001) heterostructure by HRTEM
First-principles calculations on Si (220) located 6H - SiC (1010) surface with different stacking si
6H-SiC衬底上多晶Si薄膜热壁CVD间隔生长与结构表征
Lattice-matching of Si grown on 6H–SiC(000?1) C-face
p(+)-Si/i-Si/n-SiC heterostructure photodiode used in visible region
First-principles study on Si(-220)/6H–SiC(0001) interface
Si(100)表面S钝化效果与稳定性研究
Photoelectric properties of p-β-FeSi2/n-4H-SiC heterojunction near-infrared photodiode
调制掺杂结构Si/SiC异质结的光电特性模拟
期刊信息
《半导体学报:英文版》
中国科技核心期刊
主管单位:中国科学院
主办单位:中国电子学会 中国科学院半导体研究所
主编:李树深
地址:北京912信箱
邮编:100083
邮箱:cjs@semi.ac.cn
电话:010-82304277
国际标准刊号:ISSN:1674-4926
国内统一刊号:ISSN:11-5781/TN
邮发代号:2-184
获奖情况:
90年获中科院优秀期刊二等奖,92年获国家科委、中共中央宣传部和国家新闻出版署...,97年国家科委、中共中央中宣传部和国家新出版署三等奖,中国期刊方阵“双效”期刊
国内外数据库收录:
俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国剑桥科学文摘,英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),英国英国皇家化学学会文摘,中国北大核心期刊(2000版)
被引量:7754