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硅纳米电极超低电压场致电离特性研究
  • ISSN号:1000-5641
  • 期刊名称:华东师范大学学报
  • 时间:2013
  • 页码:194-201
  • 分类:O47[理学—半导体物理;理学—物理]
  • 作者机构:[1]华东师范大学电子工程系,上海200241, [2]南通大学电子信息学院,江苏南通226019
  • 相关基金:国家自然科学基金(61076070); 南通市应用研究计划项目(BK2012039); 南通大学自然科学基金项目(102025)
  • 相关项目:基于一维硅纳米结构的微型电离气敏传感器研究
中文摘要:

用湿法化学刻蚀制备出具有直立结构的硅纳米线,其平均长度为20μm,平均直径100 nm.将该硅纳米线作为电容式电离结构的一维纳米电极,建立场致电离的测试系统,并在常温常压下测试出电离的全伏安特性,得出了一维纳米电极系统气体电离的规律.测试结果表明,利用湿法化学刻蚀制备的硅纳米线作为一维纳米电极,可以大大降低系统的击穿电压,原因在于它具有较高的场增强因子、小尺寸效应以及高的缺陷密度.

英文摘要:

By using method of wet chemical etching,a kind of straight aligned silicon nanowires (SiNWs) was prepared,with average length and diameter about 20μm and 100 nm,respectively. Then 1D SiNWs were used as the nano-electrode of capacitive ionization structure in a test system of ionization,to test the full volt ampere characteristics of ionization.The test results show that the as-grown SiNWs acting as one of the nano-electrode can reduce the breakdown voltage of power system greatly,because the as-grown SiNWs have large field enhancement factor, small size effect and high defect density.

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期刊信息
  • 《华东师范大学学报:自然科学版》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中华人民共和国教育部
  • 主办单位:华东师范大学
  • 主编:郑伟安
  • 地址:上海中山北路3663号
  • 邮编:200062
  • 邮箱:xblk@xb.ecnu.edu.cn
  • 电话:021-62233703
  • 国际标准刊号:ISSN:1000-5641
  • 国内统一刊号:ISSN:31-1298/N
  • 邮发代号:4-359
  • 获奖情况:
  • 中国综合性科技类核心期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),美国数学评论(网络版),德国数学文摘,美国剑桥科学文摘,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:6600