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新型匹配负载网络的TLP测试系统研究
  • ISSN号:1003-353X
  • 期刊名称:《半导体技术》
  • 时间:0
  • 分类:TN402[电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 作者机构:[1]中南大学物理科学与技术学院,长沙410083, [2]信息产业部电子第五研究所,广州510610
  • 相关基金:国家自然科学基金(60371046);可靠性物理与应用技术国家级重点实验室基金(9140C0301060C03001)
中文摘要:

研究了传统传输线脉冲测试波形的失真机理,实现了一种基于R-2R网络的负载电路匹配特性优化设计方案,与传统传输线脉冲测试波形相比,优化之后的系统消除了传统设备所产生脉冲波形的过冲和振荡现象,从而提高了传输线脉冲测试效率。同时,在相同的预充电电压下,优化之后的系统能提供更大能量的测试脉冲,减小系统功耗。该工作对半导体器件的ESD保护电路设计和ESD模型研究具有实用价值。

英文摘要:

The distortion mechanism of traditional TLP (transmission line pulsing) waveforms was studied and an optimized design based on R-2R matched load circuit was proposed. Comparing the experimental results obtained from the conventional and improved setups, the results indicate that the optimized setup improves the shape of TLP waveforms by minimizing the overshoot and oscillation of TLP waveforms, and thus to increase the effectiveness of the TIJD technique. With the same precharged voltage, the improved setup provides more powerful pulse that decreases the power losing of the test equipment. Thus it can provide great practical value for the design of ESD protected circuit and the research of ESD (electro static discharge) model in semiconductor devices.

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期刊信息
  • 《半导体技术》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国电子科技集团公司
  • 主办单位:中国电子科技集团公司第十三研究所
  • 主编:赵小玲
  • 地址:石家庄179信箱46分箱
  • 邮编:050051
  • 邮箱:informax@heinfo.net
  • 电话:0311-87091339
  • 国际标准刊号:ISSN:1003-353X
  • 国内统一刊号:ISSN:13-1109/TN
  • 邮发代号:18-65
  • 获奖情况:
  • 中文核心期刊,中国科技论文统计用刊
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),美国剑桥科学文摘,英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:6070