位置:成果数据库 > 期刊 > 期刊详情页
Impact of Circuit Placement on Single Event Transients in 65 nm Bulk CMOS Technology
  • ISSN号:0018-9499
  • 期刊名称:Ieee Transactions On Nuclear Science
  • 时间:0
  • 页码:2772-2777
  • 相关项目:集成电路辐照效应与抗辐照技术研究
同期刊论文项目
期刊论文 61 会议论文 18 专利 19
同项目期刊论文