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On Dynamic Behavior of Triangular Shaped Cantilevers in MEMS Sensors: Effect of Curvature
  • 所属机构名称:西安交通大学
  • 会议名称:The 10th IEEE International Conference on Solid-State and Integrated Circuit Technology
  • 时间:2010.11.11
  • 成果类型:会议
  • 相关项目:纳米制造中的计量溯源与测试理论研究
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