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倒掺杂沟道MOSFETs的研究
  • ISSN号:1000-0755
  • 期刊名称:《电子技术(上海)》
  • 时间:0
  • 分类:TN01[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]安徽大学电子科学与技术学院
  • 相关基金:国家自然科学基金资助项目"复合多晶硅栅射频高增益MOSFET的研究"(60876062);省级实验室项目"基于栅工程的射频功率LDMOS的设计与研究"
中文摘要:

本文研究了一种倒掺杂沟道MOSFET。与传统的MOSFETs不同,这种器件采用沟道表面掺杂浓度低、体内掺杂浓度高的倒掺杂设计。基于Possion方程,建立了线性变掺杂的沟道倒掺杂模型,得出了器件表面电势以及漏极电流的表达式,研究了垂直于沟道方向上倒掺杂的陡峭程度对漏极电流、饱和驱动电流以及表面电势的影响。计算结果与二维仿真软件MEDICI模拟结果相符。

英文摘要:

本文研究了一种倒掺杂沟道MOSFET。与传统的MOSFETs不同,这种器件采用沟道表面掺杂浓度低、体内掺杂浓度高的倒掺杂设计。基于Possion方程,建立了线性变掺杂的沟道倒掺杂模型,得出了器件表面电势以及漏极电流的表达式,研究了垂直于沟道方向上倒掺杂的陡峭程度对漏极电流、饱和驱动电流以及表面电势的影响。计算结果与二维仿真软件MEDICI模拟结果相符。

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期刊信息
  • 《电子技术(上海)》
  • 主管单位:上海市电信有限公司
  • 主办单位:上海市电子学会
  • 主编:陈斯雯
  • 地址:上海市长宁区泉口路274号
  • 邮编:200336
  • 邮箱:editor@etm.com.cn
  • 电话:021-52915252 52916262
  • 国际标准刊号:ISSN:1000-0755
  • 国内统一刊号:ISSN:31-1323/TN
  • 邮发代号:
  • 获奖情况:
  • 国内外数据库收录:
  • 被引量:7327