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考虑填充哑元的有效三维互连电容
期刊名称:电子学报,第33卷,第4期,pp. 667-670, 2005年
时间:0
相关项目:VLSI芯片级完整耦合互连寄生参数提取算法研究
作者:
张梦生,喻文健,王泽毅
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