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VLSI互连线频变K参数和频变电阻的有效提取算法
  • ISSN号:0372-2112
  • 期刊名称:《电子学报》
  • 时间:0
  • 分类:TN47[电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 作者机构:[1]清华大学计算机科学与技术系,北京100084
  • 相关基金:国家自然科学基金(No.90407004);清华信息科学与技术国家实验室基础研究基金
中文摘要:

在GHz以上高频集成电路中,必须考虑互连线的电感寄生效应,以便对电路性能进行准确的分析和验证.K参数矩阵(部分电感矩阵的逆)由于其较好的局部化特性,被广泛接受并应用于对互连电感效应进行建模.但多数已有文献未考虑高频效应或效率不高.本文提出一种新的三维频变K参数提取算法,通过与窗口技术相结合、以及窗口内线性方程组的有效求解,该算法具有较高的计算效率,同时,在此基础上,通过少量额外运算还可得出频变电阻.数值实验表明,该算法可处理复杂的互连结构,并且在保持较高准确度的情况下,其速度比电感提取软件FastHenry快几十至几百倍.

英文摘要:

In the integrated circuits with frequency above several GHz,parasitic inductive effect has extremely influenced the circuit performance.Therefore,efficient algorithms are required to extract the frequency-dependent parameters which capture the inductive effect.The recently proposed K element(inverse of the partial inductance)has a good localization property,and has been widely accepted for the modeling of parasitic inductance.However,most previous works on reluctance extraction did not take high frequency effect into account and were not efficient enough for 3-D complex structure.In this paper,a set of algorithms are proposed to extract the frequency-dependent K element and resistance of 3D interconnects.With a windowing technique,a direct K extraction algorithm,and improvements on solving equations within the window,the proposed method is able to handle complex interconnect structures very efficiently.Compared with FastHenry,the presented method has a speedup ratio from several tens to several hundreds,while preserving good accuracy.

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期刊信息
  • 《电子学报》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国科学技术协会
  • 主办单位:中国电子学会
  • 主编:郝跃
  • 地址:北京165信箱
  • 邮编:100036
  • 邮箱:new@ejournal.org.cn
  • 电话:010-68279116 68285082
  • 国际标准刊号:ISSN:0372-2112
  • 国内统一刊号:ISSN:11-2087/TN
  • 邮发代号:2-891
  • 获奖情况:
  • 2000年获国家期刊奖,2000年获国家自然科学基金志项基金支持,中国期刊方阵“双高”期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国剑桥科学文摘,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),英国英国皇家化学学会文摘,中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:57611