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局部K参数模拟方法的稳定性证明
  • 期刊名称:计算机辅助设计与图形学学报,第19卷,第12期,pp. 1517-1521, 2007年
  • 时间:0
  • 分类:TN47[电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 作者机构:[1]清华大学计算机科学与技术系,北京100084, [2]Synopsys Inc., Mountain View, CA 94043 USA
  • 相关基金:国家自然科学基金(90407004);清华信息科学与技术国家实验室基础研究基金
  • 相关项目:VLSI芯片级完整耦合互连寄生参数提取算法研究
中文摘要:

采用文献(魏洪川,喻文健,杨柳,等.基于K参数思想的快速三维互连电感电阻提取算法.电子学报,2005,33(8):1365—1369)中提出的算法选取窗口,证明基于此方法提取的部分磁阻矩阵K正定,进而证明基于该矩阵的模拟稳定.

英文摘要:

The window selection method proposed in (Wei Hongchuan, Yu Wenjian, Yang Liu, et al. Fast inductance and resistance extraction of 3-D VLSI interconnects based on the method of K element. Acta Electronica Sinica, 2005, 33(8): 1365-1369) was used in the paper. We proved based on it, the partial reluctance matrix extracted is positive definite. So the simulation based on it is stable.

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