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多晶硅量子效应及其对MOSFET阈值电压的影响
  • ISSN号:1001-0548
  • 期刊名称:《电子科技大学学报》
  • 时间:0
  • 分类:TN386.1[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]安徽大学电子科学与技术学院,合肥230039
  • 相关基金:国家自然科学基金资助项(60276042);安徽省自然科学基金资助项目(01044104)
中文摘要:

根据载流子分布曲线近似,通过求解泊松方程,得到了多晶硅中电场及其电势的分布,计算了在不同掺杂浓度下多晶硅量子效应所引起的MOSFET阅值电压的偏移,并与数值模拟的结果进行了比较,表明其具有较好的准确性。

英文摘要:

Based on the approximation for the charge distribution, by solving poisson equations, this paper found the distributions of electric field and electrostatic potential. Then the shift of threshold voltages due to polysilicon quantization with different polysilicon doping concentrations is calculated. The calculated results are compared with the numerical simulation results.

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期刊信息
  • 《电子科技大学学报》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:国家教育部
  • 主办单位:电子科技大学
  • 主编:周小佳
  • 地址:成都市成华区建设北路二段四号
  • 邮编:610054
  • 邮箱:xuebao@uestc.edu.cn
  • 电话:028-83202308
  • 国际标准刊号:ISSN:1001-0548
  • 国内统一刊号:ISSN:51-1207/T
  • 邮发代号:62-34
  • 获奖情况:
  • 全国优秀科技期刊,第二届全国优秀科技期刊二等奖,两次获国家新闻出版署、国家教委“全国高校自然科...,中国期刊方阵双百期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),美国数学评论(网络版),德国数学文摘,荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国剑桥科学文摘,英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:12314