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Interface traps and quantum size effects on the retention time in nanoscale memory devices
  • ISSN号:1931-7573
  • 期刊名称:Nanoscale Research Letters
  • 时间:2013.8.8
  • 页码:-
  • 相关项目:纳米集成电路的量子混沌及其对电路性能的影响
作者: Mao, Ling-Feng|
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