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表面粗糙对石墨烯场效应晶体管电流的影响
  • ISSN号:1000-7180
  • 期刊名称:微电子学与计算机
  • 时间:2012.12.12
  • 页码:154-156
  • 分类:TN389[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]苏州大学电子信息学院,江苏苏州215021
  • 相关基金:国家自然科学基金项目(61076102,6107680)
  • 相关项目:纳米集成电路的量子混沌及其对电路性能的影响
中文摘要:

建立了单栅石墨烯场效应晶体管处于栅氧化层界面平整时的电流模型,在此基础上分析氧化层界面粗糙度对源漏电流的影响.研究表明:粗糙界面会导致源漏电流有所下降;且粗糙度越大,源漏电流下降越多.

英文摘要:

A model about the current of single-gate graphene field-effect transistors with a flat surface between gate and gate oxide has been proposed. Based on this model, the effect of surface roughness on the drain current has been considered. And analysis and research about these two models have been discussed. The results display that the surface roughness leads to the decline in drain current, and that the rougher surface we have, the greater declining the current is going to be.

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期刊信息
  • 《微电子学与计算机》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国航天科技集团公司
  • 主办单位:中国航天科技集团公司第九研究院第七七一研究所
  • 主编:李新龙
  • 地址:西安市雁塔区太白南路198号
  • 邮编:710065
  • 邮箱:mc771@163.com
  • 电话:029-82262687
  • 国际标准刊号:ISSN:1000-7180
  • 国内统一刊号:ISSN:61-1123/TN
  • 邮发代号:52-16
  • 获奖情况:
  • 航天优秀期刊,陕西省优秀期刊一等奖
  • 国内外数据库收录:
  • 荷兰文摘与引文数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:17909