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IVF: Characterizing the vulnerability of microprocessor structures to intermittent faults
  • ISSN号:1063-8210
  • 期刊名称:IEEE Transactions on Very Large Scale Integration
  • 时间:0
  • 页码:777-790
  • 相关项目:超并行高效能计算机体系结构与设计方法研究
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