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周期性多孔低介电常数材料机械特性的表面波测量模型
  • ISSN号:1674-4926
  • 期刊名称:《半导体学报:英文版》
  • 时间:0
  • 分类:TN405.97[电子电信—微电子学与固体电子学]
  • 作者机构:[1]天津大学电子信息工程学院专用集成电路设计中心,天津300072
  • 相关基金:国家自然科学基金(批准号:60406003)和教育部留学回国人员科研启动基金资助项目
中文摘要:

研究了纳米通孔的分布对于表面波方法测量多孔低介电常数薄膜机械特性的影响,提出了用横观各向同性表征周期性多孔介质材料结构特性的表面波传播理论模型,给出了表面波在low-k薄膜/Si基底分层结构中的传播方程.通过数值算例揭示出表面波在不同传播方向的频散特性,以及low-k薄膜的弹性常数即杨氏模量E,E′和剪切模量G′对频散特性的影响.结果表明E′和G′在垂直于通孔的传播方向不能被测出.

英文摘要:

The influence of the distribution of nano-pores on the mechanical properties evaluation of porous low-k films by surface acoustic waves (SAW) is studied. A theoretical SAW propagation model is set up to characterize the periodic porous dielectrics by transversely isotropic symmetry. The theoretical deductions of SAW propagating in the low-k film/Si substrate layered structure are given in detail. The dispersive characteristics of SAW in differ- ent propagation directions and the effects of the Young's moduli E, E′ and shear modulus G′ of the films on these dispersive curves are found. Computational results show that E′ and G′ cannot be measured along the propagation direction that is perpendicular to the nano-pores' direction.

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期刊信息
  • 《半导体学报:英文版》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国科学院
  • 主办单位:中国电子学会 中国科学院半导体研究所
  • 主编:李树深
  • 地址:北京912信箱
  • 邮编:100083
  • 邮箱:cjs@semi.ac.cn
  • 电话:010-82304277
  • 国际标准刊号:ISSN:1674-4926
  • 国内统一刊号:ISSN:11-5781/TN
  • 邮发代号:2-184
  • 获奖情况:
  • 90年获中科院优秀期刊二等奖,92年获国家科委、中共中央宣传部和国家新闻出版署...,97年国家科委、中共中央中宣传部和国家新出版署三等奖,中国期刊方阵“双效”期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国剑桥科学文摘,英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),英国英国皇家化学学会文摘,中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:7754