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双离子束溅射制备过渡金属掺杂稀磁半导体薄膜及磁电光性质
  • 项目名称:双离子束溅射制备过渡金属掺杂稀磁半导体薄膜及磁电光性质
  • 项目类别:面上项目
  • 批准号:10575073
  • 申请代码:A050406
  • 项目来源:国家自然科学基金
  • 研究期限:2006-01-01-2008-12-31
  • 项目负责人:吴雪梅
  • 负责人职称:教授
  • 依托单位:苏州大学
  • 批准年度:2005
中文摘要:

稀磁半导体(DMS) 材料由于它同时具有电子电荷和电子自旋性质, 因而DMS 器件可以直接与现有的半导体器件集成, 在光、电、磁功能集成等新型器件方面具有重要的应用。至今居里温度(Tc)的大范围变化仍然令人费解。扩展更多的掺杂磁元素或生长更多种类材料来提高DMS材料的Tc是当前的首要问题。本项目拟以宽带隙氧化物ZnO为基础材料,充分发挥和利用双离子束溅射沉积薄膜技术(DIBSD)的特点,开展过渡金属掺杂的高Tc(高于室温)的稀磁半导体Zn1-xMxO(x=0.05-0.25,M=Co,Mn,Cr,Ni,Fe等)薄膜的制备,研究由于过渡金属掺杂后对薄膜结构的调制,搞清掺杂金属的种类和含量对Zn1-xMxO薄膜磁电光性质的影响,探索掺杂金属的种类和含量对Zn1-xMxO薄膜性质影响的作用机理,制备性能稳定的高居里温度(Tc)(高于室温)的稀磁半导体Zn1-xMxO薄膜.


成果综合统计
成果类型
数量
  • 期刊论文
  • 会议论文
  • 专利
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  • 著作
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  • 4
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