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Background substaction of digital coincidence Doppler broadening spetra
  • 所属机构名称：中国科学技术大学
  • 成果类型：著作
  • 出版社：Measurement Science Technology(accepted)
  • 语言：英文
  • 相关项目：化合物半导体SiC的缺陷性质研究及慢正电子束装置改进
作者： C. Y. Xi|W. Kong|B.J.Ye|H .M. Weng|X.Y. Zhou and R.D. Han|
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