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SOFTWARE TOOLS FOR ANALYZING NBTI-INDUCED DIGITAL CIRCUIT DEGRADATION
  • ISSN号：0217-9822
  • 期刊名称：《电子科学学刊：英文版》
  • 分类：TN79[电子电信—电路与系统] TP311.56[自动化与计算机技术—计算机软件与理论;自动化与计算机技术—计算机科学与技术]
  • 作者机构：[1]Department of Electronic Engineering, Tsinghua University, Beijing 100084, China, [2]TNList, Tsinghua University, Beijing 100084, China
  • 相关基金：Supported by the National Key Technological Program of China （No.2008ZX01035-001）;; the National Natural Sci-ence Foundation of China （No.60870001）;; TNList Cross-discipline Fundation
作者： Luo Hong[1,2], Wang Yu[1,2], Luo Rong[1,2], Yang Huazhong[1,2]
关键词： 软件工具, 数字电路, 铌钛, 降解, 诱导, NBTI, 测试分析, 半导体制造, Integrated circuit, Reliability, Negative Biased Temperature Instability （NBTI）, Software tool
中文摘要：

Wang Yu, born in 1982, male, Ph.D., Assistant Professor. Departmeut of Electronic Engineering, Tsinghua University, Beijing 100084, China. Email：yu-wang@tsinghua.edu.cn.

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期刊信息
  • 《电子科学学刊：英文版》
  • 主管单位:中国科学院
  • 主办单位:中国科学院电子学研究所
  • 主编：朱敏慧
  • 地址：北京2702信箱
  • 邮编：100080
  • 邮箱：jc@mail.ie.ac.cn
  • 电话：010-62551772
  • 国际标准刊号：ISSN：0217-9822
  • 国内统一刊号：ISSN：11-2003/TN
  • 邮发代号:
  • 获奖情况:
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,荷兰文摘与引文数据库,英国科学文摘数据库
  • 被引量:73