位置:成果数据库 > 期刊 > 期刊详情页
Leakage Power and Circuit Aging Cooptimization by Gate Replacement Techniques
  • ISSN号:1063-8210
  • 期刊名称:IEEE Transactions on Very Large Scale Integration
  • 时间:0
  • 页码:615-628
  • 语言:英文
  • 相关项目:基于FPGA的具有抗衰老机制的机器学习
同期刊论文项目
期刊论文 28 会议论文 31 专利 8
同项目期刊论文