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SERSim: a soft error rate simulator and a case study for a 32-bit OpenRisc 1200 microprocessor
  • ISSN号:0020-7217
  • 期刊名称:International Journal of Electronics
  • 时间:0
  • 页码:441-455
  • 语言:英文
  • 相关项目:基于FPGA的具有抗衰老机制的机器学习
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