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Micro-Raman spectroscopy observation of field-induced strain relaxation in AlGaN/GaN/SiC heterojunct
  • ISSN号：1862-6300
  • 期刊名称：Physica Status Solidi A-Applications and Materials
  • 时间：0
  • 页码：1174-1178
  • 相关项目：GaN基功率器件与材料可靠性基础问题研究
作者： S. B. Dun（敦少博）|S. J. Cai（蔡树军）|Y. Jiang|J. Q. Li|Y. L. Fang（房玉龙）|J. Y. Yin（尹甲运）|B. Liu（刘波）|J. J. Wang（王晶晶）|H. Chen|Z. H. Feng（冯志红）|
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