位置:成果数据库 > 期刊 > 期刊详情页
(Cu,Al)掺杂ZnO薄膜表面处缺陷的拉曼光谱研究
  • ISSN号:1000-7032
  • 期刊名称:Chinese Journal of Luminescence
  • 时间:2012.6.6
  • 页码:109-113
  • 分类:O472.5[理学—半导体物理;理学—物理]
  • 作者机构:[1]中国科学院上海硅酸盐研究所,上海200050, [2]中国科学院研究生院,北京100039
  • 相关基金:国家自然科学基金青年基金(51002176); 中国科学院上海硅酸盐研究所创新基金资助项目
  • 相关项目:氧化锌基稀磁半导体薄膜反常霍尔效应与磁输运性能研究
中文摘要:

采用电感耦合等离子体增强物理气相沉积法制备了(Cu,Al)掺杂ZnO薄膜,超导量子干涉磁强计测试结果表明,薄膜具有室温的铁磁性。采用激光共聚焦拉曼(Raman)光谱研究了(Cu,Al)掺杂ZnO薄膜的表面特性,以两种处理方式对薄膜进行了Raman光谱测试:共聚焦模式从薄膜表面开始至不同深度处进行测试;对薄膜样品进行预处理加工,采用面扫描模式在薄膜平面对(Cu,Al)掺杂ZnO薄膜的斜面进行测试。分析了Raman光谱A1(LO)峰的中心位置和强度变化,结果表明,界面处晶格应力和缺陷明显增强。这些晶格畸变和点缺陷的存在会对体系的铁磁性有促进作用。

英文摘要:

(Cu,Al)-doped ZnO thin films were deposited by an inductively coupled plasma enhanced physical vapor deposition system.The magnetic properties were measured by a superconducting quantum interference device magnetometer,and room-temperature ferromagnetism was observed in the(Cu,Al)-doped ZnO thin films.The surface characteristics of(Cu,Al)-doped ZnO thin films were studied by confocal Raman spectroscopy.Two different Raman spectra were performed: A confocal Raman measurement was used to characterize the defects at the surface and interface by focusing at different depths;A mapping mode was performed along a slope which was processed by a mask.The central position and the intensity of A1(LO) resonance peak were analyzed.The results indicate that the lattice stress and defects at the interface were obvious,while these lattice stress and defects at the interface will enhance the ferromagnetic properties of(Cu,Al)-doped ZnO thin films.

同期刊论文项目
同项目期刊论文
期刊信息
  • 《发光学报》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国科学院
  • 主办单位:中国物理学会发光分会 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
  • 主编:申德振
  • 地址:长春市东南湖大路3888号
  • 邮编:130033
  • 邮箱:fgxbt@126.com
  • 电话:0431-86176862
  • 国际标准刊号:ISSN:1000-7032
  • 国内统一刊号:ISSN:22-1116/O4
  • 邮发代号:12-312
  • 获奖情况:
  • 物理学类核心期刊,2000年获中国科学院优秀期刊二等奖,中国期刊方阵“双效”期刊
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国剑桥科学文摘,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:7320