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The surface morphological evolution of ultrathin SiC buffer layer grown on Si (100) substrate by atm
  • ISSN号:0884-2914
  • 期刊名称:JOURNAL OF MATERIALS RESEARCH
  • 时间:2013.1.1
  • 页码:113-119
  • 相关项目:氧化锌基稀磁半导体薄膜反常霍尔效应与磁输运性能研究
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