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Influence of surface bow on reconstruction on 2-inch SiC (0001) wafer
  • ISSN号:0021-8979
  • 期刊名称:Journal of Applied Physics
  • 时间:2012.1.1
  • 页码:023516-023520
  • 相关项目:氧化锌基稀磁半导体薄膜反常霍尔效应与磁输运性能研究
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