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硅掺杂MgB_2超导薄膜的制备及研究
  • ISSN号:1000-3258
  • 期刊名称:《低温物理学报》
  • 时间:0
  • 分类:O511[理学—低温物理;理学—物理]
  • 作者机构:[1]北京大学物理学院,北京 100871
  • 相关基金:国家自然科学基金(批准号:50572001); 十一、五“973计划”(批准号:2006CD601004); 教育部优秀本科生基础科研基金(批准号:J0630311)资助的课题
中文摘要:

本文报道了基于混合物理化学气相沉积法(Hybrid physical-chemical vapordeposition,简称为HPCVD),以硅烷热解出的Si原子作硅源,在SiC衬底上原位生长了一系列硅掺杂MgB_2超导薄膜样品.样品中最大硅掺杂量是9%.与纯净的MgB_2薄膜相比较,掺杂样品的超导临界转变温度T_c没有大幅下降,超导临界电流J_c得到了一定提升.在温度为5K,外加垂直磁场为3T的条件下,样品的临界电流密度最大达到2.7×10~5Acm~(-2).同时上临界场H_(c2)在超导转变温度附近对于温度的变化曲线斜率—dH/dT也有一定的提高.

英文摘要:

We report the synthesis and characterization of silicon-doped MgB_2 films fabricated by hybrid physicalchemical vapor deposition(HPCVD) using silane as the doping source.Various amounts of Si up to 9%were added into MgB_2 thin films,which are in situ epitaxial growth on SiC.Compared with the undoped film,the superconducting transition temperature(T_c) of the doped film does not change significantly,however its magnetic critical current density(J_c) has been increased.J_c of the film with 5.0 at%is up to 2.7×10~5 Acm~(-2) for 3T perpendicular field. And the slope of the upper critical field(H_(c2)) curve of the doped film is slightly higher than that for the undoped MgB_2 film.

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期刊信息
  • 《低温物理学报》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:中国科学院
  • 主办单位:中国科学技术大学
  • 主编:赵忠贤
  • 地址:安徽省合肥市金寨路96号
  • 邮编:230026
  • 邮箱:LiBiyou@ustc.edu.cn
  • 电话:0551-3601359
  • 国际标准刊号:ISSN:1000-3258
  • 国内统一刊号:ISSN:34-1053/O4
  • 邮发代号:26-136
  • 获奖情况:
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:1577