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Influence of the texture on Raman and X-ray diffraction characteristics of polycrystalline AlN films
  • ISSN号:0040-6090
  • 期刊名称:Thin Solid Films
  • 时间:0
  • 页码:986-989
  • 语言:英文
  • 相关项目:场效应纳米器件中表面/界面的行为与控制
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