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时序电路状态覆盖向量的遗传方法筛选
  • ISSN号:1003-9775
  • 期刊名称:《计算机辅助设计与图形学学报》
  • 时间:0
  • 分类:TP391.76[自动化与计算机技术—计算机应用技术;自动化与计算机技术—计算机科学与技术]
  • 作者机构:[1]中国科学院计算技术研究所先进测试技术实验室,北京100080, [2]中国科学院研究生院,北京100039
  • 相关基金:国家自然科学基金(90207002)
中文摘要:

传统的状态覆盖方法对电路的数据单元测试不足,而随机测试方法又具有盲目性.在综合2种方法的基础上,给出一种以状态与状态转换覆盖率为评估、以遗传筛选为工具对生成的测试向量进行择优选择的方法.为了指导测试生成,给出了动态状态转换与静态状态转换概念.同时,基于该方法给出一个测试生成工具GRTT.最后,将文中方法实验于ITC99-benchmark电路,并将实验结果与测试生成系统X-Pulling的结果进行比较.

英文摘要:

The merit and shortcoming of traditional states covering method and genetic method are analyzed in this article. A new genetic selecting approach is presented to overcome the shortcoming of these two methods. First, it can be implemented at RT-level. Second, it uses state coverage as fitness function, which is useful to test the control-part of the circuit. Third, it can test the control part and data part of circuit at the same time. The concept about dynamic state transfer and static state transfer are also brought up in this paper to direct test pattern generation. Based on this approach, an ATPG toot named GRTT is developed. Experimental results on ITC99-benchmarks show that GRTT can get excellent results not only in coverage but also in run-time. In comparison with X-Pulling, an experimental RT-level ATPG system, GRTT runs faster.

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期刊信息
  • 《计算机辅助设计与图形学学报》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:中国科学技术协会
  • 主办单位:中国计算机学会
  • 主编:鲍虎军
  • 地址:北京2704信箱
  • 邮编:100190
  • 邮箱:jcad@ict.ac.cn
  • 电话:010-62562491
  • 国际标准刊号:ISSN:1003-9775
  • 国内统一刊号:ISSN:11-2925/TP
  • 邮发代号:82-456
  • 获奖情况:
  • 第三届国家期刊奖提名奖
  • 国内外数据库收录:
  • 俄罗斯文摘杂志,荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:24752