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组合CMOS电路开路故障的BIST探讨
  • 期刊名称：《复旦学报》（自然科学版）, Vol.44, No.1, 2005, pp.95-100
  • 时间：0
  • 相关项目：从行为级到版图级的设计验证与测试生成
作者： 谢波, 黄维康, 唐璞山*
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