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基于密集采样成像算法的全芯片可
  • 期刊名称：《中国科学》E辑, Vol 35(2), pp.214-224, 2005.2
  • 时间：0
  • 相关项目：从行为级到版图级的设计验证与测试生成
作者： 严晓浪, 陈晔, 史峥, 马玥,高根
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