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Sn-Ag-Cu焊料中金属间化合物对焊接性能的影响
  • ISSN号:1001-2028
  • 期刊名称:《电子元件与材料》
  • 时间:0
  • 分类:TN604[电子电信—电路与系统] TG42[金属学及工艺—焊接]
  • 作者机构:[1]桂林电子工业学院机电与交通工程系,广西桂林541004
  • 相关基金:国家自然科学基金资助项目(批准号:60166001)
中文摘要:

讨论了Sn—Ag-Cu焊料与Cu焊盘间在回流焊过程中形成的金属间化合物(IMC)的种类、形态,Ag含量和Cu含量对IMC的影响,IMC在老化过程中的生长演变及其对焊接性能的影响。结果表明:Sn—Ag—Cu焊料与Cu焊盘之间的金属间化合物主要是Cu6Sn5和长针状的Ag3Sn,Ag和Cu的添加对组织有明显细化作用,但过量添加会影响IMC的性能。IMC的演变主要是与老化温度、老化时间有关,较厚的IMC不利于焊接性能的提高。

英文摘要:

The kinds, morphology of the intermetallic compound (IMC) formed in the Sn-Ag-Cu solder and copper pad interface during reflow soldering, and the effect of the Ag and Cu content on IMC, the evolution of the IMC in aging, and the effect of IMC on the properties of the joint were discussed. The results show that the IMC formed in the Sn-Ag-Cu solder and copper is mainly Cu6Sn5 and Ag3Sn, Ag and Cu is available to the microstructure of IMC, but excessive content is harmful to IMC. The evolution of IMCs is related to the aging temperature and aging time. The thicker IMC is bad for the properties of IMC.

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期刊信息
  • 《电子元件与材料》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:中华人民共和国工业和信息化部
  • 主办单位:中国电子学会 中国电子元件行业协会 国营第715厂(成都宏明电子股份有限公司)
  • 主编:陈 丰
  • 地址:成都市一环路东二段8号宏明商厦702室
  • 邮编:610051
  • 邮箱:journalecm@163.com
  • 电话:028-84391569
  • 国际标准刊号:ISSN:1001-2028
  • 国内统一刊号:ISSN:51-1241/TN
  • 邮发代号:62-36
  • 获奖情况:
  • 第二届全国优秀期刊评比二等奖,第二届国家期刊奖...
  • 国内外数据库收录:
  • 美国化学文摘(网络版),英国科学文摘数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:8585