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大孔径空间探测系统的缺陷分布分析
  • ISSN号:1000-9787
  • 期刊名称:传感器与微系统
  • 时间:2012.1.20
  • 页码:42-44
  • 分类:TH743[机械工程—光学工程;机械工程—仪器科学与技术;机械工程—精密仪器及机械]
  • 作者机构:[1]中国科学院长春光学精密机械与物理研究所,吉林长春130033, [2]中国科学院研究生院,北京100039, [3]哈尔滨工程大学理学院,黑龙江哈尔滨150001
  • 相关基金:国家自然科学基金重点资助项目(61036015)
  • 相关项目:大口径离轴高次非球面加工和检测基础研究
中文摘要:

针对空间光学成像探测系统的口径越来越大,在加工中容易产生局部缺陷的问题,分析了局部缺陷分布位置对于光学系统的影响。基于成像光学系统的调制传递函数给出了缺陷位置分布对空间频率的影响的理论分析。利用Zemax和Matlab软件对一个实际缺陷的调制传递函数特性进行了仿真研究,结果表明:在光学系统中有效避免了局部缺陷对高频的不利影响,可使截止频率提高5%。

英文摘要:

The aperture of optical imaging detecting system is larger and larger, so local defects is more likely to occur during the optical manufacturing. Influence of position of local defects distribution on the optical system is analyzed. Modulation transfer function (MTF)based on imaging optical system, the effect of the position distribution of defects on spacial frequency is analyzed theoretically. The property of MTF influence of a real defect is analyzed by Zemax and Matlab. Results indicate that the adverse effect of defects on high frequency is avoided, the cut off frequency is increased 5 %.

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期刊信息
  • 《传感器与微系统》
  • 北大核心期刊(2011版)
  • 主管单位:中国电子科技集团公司
  • 主办单位:中国电子科技集团公司第四十九研究所
  • 主编:吴亚林
  • 地址:哈尔滨市南岗区一曼街29号四十九所
  • 邮编:150001
  • 邮箱:st_chinasensor@126.com
  • 电话:0451-82510965
  • 国际标准刊号:ISSN:1000-9787
  • 国内统一刊号:ISSN:23-1537/TN
  • 邮发代号:14-203
  • 获奖情况:
  • 获全国优秀科技期刊三等奖,获1996年度黑龙江省科技期刊评比,优秀科技期刊壹等奖,获《CAJ-CD》执行优秀奖,获信息产业部2001-2002年度电子科技期刊规范化奖,获信息产业部2003-2004年度优秀电子科技期刊奖,获信息产业部2005-2006年度优秀电子科技期刊奖,获工业和信息化部2007-2008年度电子精品科技期刊奖
  • 国内外数据库收录:
  • 中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版)
  • 被引量:10819