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双外延基区4H-SiC BJTs的建模与仿真
  • ISSN号:1001-246X
  • 期刊名称:《计算物理》
  • 时间:0
  • 分类:TN324.1[电子电信—物理电子学] TN325.3[电子电信—物理电子学]
  • 作者机构:[1]西安电子科技大学微电子学院,宽禁带半导体材料与器件重点实验室,陕西西安710071
  • 相关基金:Project supported by the National Natural Science Foundation of China( Grant No. 60876061 ) , Pre-research Project( Project No. 51308040302)
中文摘要:

基于4H—SiC的材料特性,对具有双外延基区结构的4H—SiC双极晶体管进行研究.通过分析该结构在基区内部形成的自建电场以及基区渡越时间,利用正交试验的方法,基于各种器件二维模型,对该器件结构进行数值计算,并进行平均极差分析.计算结果表明,该器件的共发射结电流增益最高可达72,具有负温度系数,并且在一个很宽的集电极电流范围内该特性保持不变.

英文摘要:

With characteristics of 4H-SiC, a double base epilayer 4H-SiC bipolar junction transistors (BJTs) is investigated. By analyzing build-in electric field in the base region and the base transit time, the device is numerically calculated in two-dimensional models according to orthogonal experiments. A mean range analysis is made to find optimized structure of 4H-SiC BJTs. It shows that common emitter current gain with negative temperature coefficient is about 72 and it remains high in a wide range of collector current.

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期刊信息
  • 《计算物理》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国科学技术协会
  • 主办单位:中国核学会
  • 主编:朱少平
  • 地址:北京海淀区丰豪东路2号北京应用物理与计算数学研究所
  • 邮编:100094
  • 邮箱:jswl@iapcm.ac.cn
  • 电话:010-59872547 59872545 59872547
  • 国际标准刊号:ISSN:1001-246X
  • 国内统一刊号:ISSN:11-2011/O4
  • 邮发代号:2-477
  • 获奖情况:
  • 1992年获“全优期刊”奖,《CAJ-CD规范》执行优秀奖
  • 国内外数据库收录:
  • 荷兰文摘与引文数据库,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊(2004版),中国北大核心期刊(2008版),中国北大核心期刊(2011版),中国北大核心期刊(2014版),中国北大核心期刊(2000版)
  • 被引量:4426