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Robust Two-Dimensional Topological Insulators inMethyl-Functionalized Bismuth, Antimony, and Lead Bi
  • ISSN号:1530-6984
  • 期刊名称:Nano Letters
  • 时间:2015.1.5
  • 页码:1083-1089
  • 相关项目:非过渡金属杂质、缺陷对拓扑绝缘体材料改性的理论研究
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