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An approach for soft fault diagnosis on analog circuits with tolerance
  • ISSN号：1000-6753
  • 期刊名称：Transactions of China Electrotechnical Society
  • 时间：2011
  • 页码：119-125
  • 相关项目：电子系统可测试性设计理论与方法
作者： Ye Li|Wang Houjun|Tian Shulin|Ye Peng|
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电子系统可测试性设计理论与方法
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期刊信息
  • 《电工技术学报》
  • 中国科技核心期刊
  • 主管单位:中国科协
  • 主办单位:中国电工技术学会
  • 主编：马伟明
  • 地址：北京西城区三里河路46号
  • 邮编：100823
  • 邮箱：dgjsxb@vip.126.com
  • 电话：010-68595056 68594832 68595315
  • 国际标准刊号：ISSN：1000-6753
  • 国内统一刊号：ISSN：11-2188/TM
  • 邮发代号:6-117
  • 获奖情况:
  • 中国科协科技期刊评比三等奖,机械系统优秀科技期刊三等奖
  • 国内外数据库收录:
  • 荷兰文摘与引文数据库,美国工程索引,美国剑桥科学文摘,日本日本科学技术振兴机构数据库,中国中国科技核心期刊,中国北大核心期刊（2004版）,中国北大核心期刊（2008版）,中国北大核心期刊（2011版）,中国北大核心期刊（2014版）,中国北大核心期刊（2000版）
  • 被引量:38819