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基于TDC芯片的LCR参数测量仪
  • ISSN号：1000-8519
  • 期刊名称：电子测试
  • 时间：2012
  • 页码：62-65
  • 相关项目：电子系统可测试性设计理论与方法
作者： 李玲|田书林|戴志坚|
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电子系统可测试性设计理论与方法
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期刊信息
  • 《电子测试》
  • 主管单位:北京市科学技术研究院
  • 主办单位:北京自动测试技术研究所
  • 主编：陈晓筱
  • 地址：北京市100098-002信箱
  • 邮编：100098
  • 邮箱：ed@test169.com
  • 电话：010-62410551 56245897
  • 国际标准刊号：ISSN：1000-8519
  • 国内统一刊号：ISSN：11-3927/TN
  • 邮发代号:82-870
  • 获奖情况:
  • 国内外数据库收录:
  • 被引量:7647