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An improved autoregressive model by particle swarm optimization for prognostics of lithium-ion batte
  • ISSN号：0026-2714
  • 期刊名称：Microelectronics Reliability
  • 时间：2013.6.6
  • 页码：821-831
  • 相关项目：电子系统可测试性设计理论与方法
作者： Long, Bing|Xian, Weiming|Jiang, Lin|Liu, Zhen|
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电子系统可测试性设计理论与方法
期刊论文 70 会议论文 9 专利 3 著作 1
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