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Application of Heuristic Graph Search to Test-Point Selection for Analog Fault Dictionary Techniques
  • ISSN号：0018-9456
  • 期刊名称：IEEE Transactions on Instrumentation and Measureme
  • 时间：2009
  • 页码：2145-2158
  • 相关项目：电子系统可测试性设计理论与方法
作者： Chenglin Yang|Shulin Tian|
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电子系统可测试性设计理论与方法
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