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Geometric methods of faults isolation for analog diagnosis with tolerance
  • 期刊名称：Journal of the University of Electronic Science an
  • 时间：2011
  • 页码：53-57
  • 相关项目：电子系统可测试性设计理论与方法
作者： Ye, Li| Wang, Hou-Jun|Ye, Peng| Tian, Shu-Lin|
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电子系统可测试性设计理论与方法
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