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A test points selection method for analog fault dictionary techniques
  • ISSN号：0925-1030
  • 期刊名称：Analog Integrated Circuits and Signal Processing
  • 时间：2010
  • 页码：349-357
  • 相关项目：电子系统可测试性设计理论与方法
作者： Chenglin Yang|田书林|
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