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A New Method for Analog Circuit Fault Diagnosis based on Testability and Chaos Particle Swarm Optimi
  • 期刊名称：Journal of Convergence Information Technology
  • 时间：2012
  • 页码：444-453
  • 相关项目：电子系统可测试性设计理论与方法
作者： Han Han|Houjun Wang|
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电子系统可测试性设计理论与方法
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